×

Вы используете устаревший браузер Internet Explorer. Некоторые функции сайта им не поддерживаются.

Рекомендуем установить один из следующих браузеров: Firefox, Opera или Chrome.

Контактная информация

+7 961 270-60-01
ivdon@ivdon.ru

  • Исследование вариантов частичного резервирования при проектировании сбоеустойчивых логических блоков ПЛИС

    В данной статье предложены варианты частичного резервирования сбоеустойчивых структур программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) посредством формирования внутренней структуры из макроячеек, с возможностью исправления одиночных обратимых сбоев в вентилях схемы. Предложены варианты минимизации встроенной избыточности. Проведена экспериментальная работа, по формированию сбоеустойчивых проектов комбинационных схем в базисе сбоеустойчивых ПЛИС.

    Ключевые слова: комбинационная схема, ПЛИС, программируемые логические интегральные схемы, LUT, логический синтез, повышение сбоеустойчивости, система автоматизации проектирования (САПР), инжектирование ошибок, кратковременные единичные сбои

    05.13.05 - Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления

  • Исследование и разработка методов оценки сбоеустойчивости комбинационных схем, реализованных в базисе ПЛИС

    В статье представлен метод создания модели комбинационной схемы, реализованной в базисе ПЛИС на основе её исходного описания. Данная модель представляет собой эквивалентную логическую схему в базисе внутренних логических элементов ПЛИС. Полученная схема может быть использована для расчета различных параметров, таких как быстродействие, площадь, потребляемая мощность и т. д. В статье предлагается использовать данную модель для оценки сбоеустойчивости по отношению к одиночным ошибкам, возникающим в комбинационных участках схемы или в регистрах конфигурации. Кроме того, полученная эквивалентная схема может быть модифицирована и повторно синтезирована в среде САПР для повышения логической устойчивости к одиночным сбоям. Непосредственная оценка маскирующих свойств логической схемы по исходному описанию невозможна из-за процесса синтеза и существенного изменения структуры схемы, а оценка характеристик сбоеустойчивости после размещения в кристалл недоступна из-за отсутствия в современных САПР (Altera Quartus II, Xilinx ISE, Synopsys Synplify) необходимых инструментов для получения эквивалента схемы на уровне логических вентилей. Единственной возможностью является создание собственных инструментов анализа нет-листа и построение модели комбинационной схемы для оценки её сбоеустойчивости.

    Ключевые слова: оценка сбоеустойчивости, ресинтез, комбинационные схемы, ПЛИС, инжектирование ошибок

    05.13.05 - Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления