ivdon3@bk.ru
Приведены сведения по разработке имитационных (поведенческих) моделей микросхем импульсных преобразователей напряжения для применения в автоматизированном измерительном оборудовании, используемого в испытаниях указанных интегральных микросхем. Выполнено моделирование интегральной микросхемы LM2676 с учетом тепловыделения и учетом взаимного влияния температуры кристалла на внешние электрические характеристики в составе общей поведенческой модели. Получены результаты, совпадающие с экспериментальными данными и со SPICE-моделью на транзисторном уровне, а также зависимости, отражающие влияние температуры кристалла на функционирование микросхемы. Показана возможность использования поведенческих моделей в качестве источника нормативно-справочной информации в процессе тестирования электронных компонентов.
Ключевые слова: автоматизированное тестовое оборудование, контроль параметров микросхем, импульсные преобразователи напряжения, поведенческая модель, VHDL-AMS
05.13.18 - Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ